上海合見工業(yè)軟件集團(tuán)有限公司（簡稱“合見工軟”）推出下一代全功能高效能數(shù)字驗(yàn)證調(diào)試平臺(tái)UniVista Debugger Plus (UVD+)，集成更多高階功能，提供全場景調(diào)試能力，創(chuàng)新的數(shù)據(jù)處理架構(gòu)提升驗(yàn)證調(diào)試效率，并打造全新視覺觀感，多維提升調(diào)試體驗(yàn)。
下一代全功能、高性能數(shù)字驗(yàn)證調(diào)試平臺(tái)UVD+，依托創(chuàng)新的全自研架構(gòu)精心構(gòu)建。它實(shí)現(xiàn)了對(duì)調(diào)試全場景的無縫覆蓋，擁有流暢美觀的操作界面與便捷易用的交互設(shè)計(jì)，大幅提升用戶體驗(yàn)。該調(diào)試平臺(tái)配備了高性能波形引擎、智能源碼追蹤、高效易用的原理圖分析等核心自研組件，為調(diào)試工作提供強(qiáng)大助力。同時(shí)，UVD+還支持?jǐn)?shù)?；旌蠄鼍罢{(diào)試、低功耗調(diào)試、事務(wù)級(jí)協(xié)議分析以及覆蓋率深度分析等關(guān)鍵優(yōu)勢(shì)功能，顯著提升驗(yàn)證效率，是芯片驗(yàn)證和設(shè)計(jì)工程師的得力調(diào)試伙伴，為保障芯片功能的正確性與可靠性提供有力支撐。
產(chǎn)品特性
- 支持從代碼到波形原理圖等的全方位調(diào)試
- 集成先進(jìn)驗(yàn)證方法學(xué)，一站式解決復(fù)雜調(diào)試需求
- UVM高級(jí)調(diào)試，UPF調(diào)試
- 智能源代碼追蹤 & 一鍵X態(tài)追蹤
- Coverage Debug覆蓋率聯(lián)調(diào)
- 雙版本對(duì)比調(diào)試
- 模數(shù)混合信號(hào)調(diào)試
- 開放接口支持客制化App開發(fā)
- 創(chuàng)新架構(gòu)處理海量驗(yàn)證數(shù)據(jù)
- 高讀寫性能波形引擎及高壓縮率波形生成技術(shù)
- 簡潔易用的交互操作界面，顯著提升調(diào)試效率與生產(chǎn)力
- 全新深色UI模式，降低長時(shí)間調(diào)試視覺疲勞
滬公網(wǎng)安備31010402009389號(hào)